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您的位置：網(wǎng)站首頁 > 技術(shù)文章 > 半導(dǎo)體檢測(cè)冷熱沖擊試驗(yàn)箱是怎么測(cè)試條件？ PROUCTS LIST
半導(dǎo)體是指常溫下導(dǎo)電性能介于導(dǎo)體與絕緣之間的材料。半導(dǎo)體在收音機(jī)，電視機(jī)及測(cè)溫上有著廣泛的應(yīng)用。 環(huán)境的影響對(duì)于半導(dǎo)體的質(zhì)量和使用壽命影響因素比較大，尤其是一些半導(dǎo)體出口企業(yè)，不單只借助冷熱沖擊試驗(yàn)箱對(duì)半導(dǎo)體產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境測(cè)試和實(shí)驗(yàn)，還會(huì)借助皓天高低溫試驗(yàn)箱，恒溫恒濕試驗(yàn)箱，高低溫濕熱交變箱。
半導(dǎo)體檢測(cè)冷熱沖擊試驗(yàn)箱什么樣測(cè)試條件才能滿足半導(dǎo)體需要？
1. 款式：三箱或兩箱（任意選擇）
2. 溫度沖擊范圍：高溫：（+60～+150）℃/低溫：（-65～-10）℃
3.高溫區(qū)預(yù)熱溫度：+60℃→+180℃
4.低溫區(qū)預(yù)冷溫度：-70℃～-10℃
5.試驗(yàn)條件：
GB/T 2423.1-2008 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法、GB/T 2423.2-2008 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法、 GB/T2423.22-2002 試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Na
GJB 150.5A-2009 軍用設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)
GJB 360A-1996 溫度沖擊試驗(yàn)、IEC 68-2-14 試驗(yàn)方法 N ：溫度變化
GJB367.2-2001 通信設(shè)備通用規(guī)范 溫度沖擊試驗(yàn)
冷熱沖擊試驗(yàn)箱試驗(yàn)原理分高溫區(qū)、低溫區(qū)兩部分，測(cè)試樣品放置在其中一個(gè)吊籃工作室內(nèi)，通過氣動(dòng)方式實(shí)現(xiàn)樣品在高低溫室的切換，完成冷熱溫度沖擊測(cè)試。*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)確保試驗(yàn)箱恒溫性能良好。
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